M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方

阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換

全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采

用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、

金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂

層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具

，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極

片等箔上涂層電阻率方阻。
     
         詳見  表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
    電    阻：     0.010 ～ 9999Ω,    分辨率0.001 ～ 1 Ω
    電 阻 率：     0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
    方塊電阻：     0.050～ 2000Ω/□   分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定
   直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
   SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
   長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
   測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級

量程（Ω-cm/□） 9.999 99.99 999.9 9999.
電阻測試范圍 0.010～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～9999
電阻率/方阻 0.010/0.050～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 999.9～2000
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈   重：≤0.5kg