類型：電子測量 設(shè)備生產(chǎn)產(chǎn)地：日本 型號(hào)：HBM-M
品牌：NOISEKEN 產(chǎn)品數(shù)量：1 新舊程度：8成新
設(shè)備所在地：深圳






Noiseken(噪聲研究所）HBM-M

特征考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時(shí)，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動(dòng)作的現(xiàn)象。
對(duì)于此靜電破壞試驗(yàn)，只需利用1 臺(tái)弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實(shí)行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有，可用選件中的精密型支架可對(duì)超細(xì)密間距元件做半自動(dòng)的試驗(yàn)。
最適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。
精密型支架



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可做最高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)（ESS-6008）
可做出留有余量的試驗(yàn)
可對(duì)各種間距的受測元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)
可搭配精密測臺(tái)，以半自動(dòng)（Y 軸）的腳位移動(dòng)而正確的對(duì)待
測物施加靜電
可做最低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)（ESS-6002）
對(duì)于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評(píng)價(jià)可從10V 開始以1V 的步長予施加
可對(duì)應(yīng)規(guī)格



對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)