M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多

用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
     儀器成套組成：由M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
     儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選

；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
     探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、

金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂

層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具

，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極

片等箔上涂層電阻率方阻。
      詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊進入
     儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
     儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性

能的測試。
三、基本技術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
     電    阻：     0.010 ～ 99.99kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
     電 阻 率：  0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
     方塊電阻：  0.050～ 20.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
    手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
    直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。
                  SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
    測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級

量程（Ω-cm/□） 9.999 99.99 999.9 9.999k 99.99k
電阻測試范圍 0.010～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 0.9999～9.999k 9.999～99.99k
電阻率/方阻 0.010/0.050～9.999 9.99～99.99 99.99～999.9 0.9999～9.999k 9.999～20.00k
基本誤差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
    凈   重：≤0.3kg